Beitrag zur Betrachtung von MTTFSpurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508

Dang, P. N. Thao

kassel university press, ISBN: 978-3-7376-0204-4, 2016, 167 Seiten

URN: urn:nbn:de:0002-402057

DOI: 10.19211/KUP9783737602051

Zugl.: Kassel, Univ., Diss. 2016

Inhalt: Die vorliegende Arbeit legt den Fokus auf die Fehler, die aufgrund von Spurious-Trip im Zusammenhang mit der Norm IEC 61508 entstehen. Die Unterschiede zwischen den unterschiedlichen Betriebsarten werden in der Arbeit noch mal kurz beschrieben und diskutiert. Aus diesen Unterschieden werden die neuen Gleichungen für die Bestimmung der Parameter des Spurious-Trip Ausfalls bestimmt. Die Ergebnisse werden durch ein Beispiel evaluiert und dann mit den herkömmlichen Formeln verglichen und diskutiert. Die Analyse des Spurious-Trip Ausfalls und die Berechnung dessen Parameter werden mittels Blockdiagramm und Markov-Modell durchgeführt.

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